Ingeniería de fiabilidad

Tiempo promedio entre fallas

El tiempo medio entre fallos (a menudo abreviado como MTBF) es un parámetro de confiabilidad aplicable a dispositivos mecánicos, eléctricos y electrónicos y apl...

Redundancia (ingeniería)

La redundancia, en ingeniería de confiabilidad, se define como la existencia de varios medios para realizar una función determinada, dispuestos de tal manera qu...

Estimador Kaplan-Meier

El estimador Kaplan - Meier, también conocido como estimador de producto límite, es un estimador utilizado para estimar la función de supervivencia de los datos...

FMEA

El FMEA (o modo de fallo y análisis de efectos) es una metodología utilizada para analizar los modos de fallo o defecto de un proceso, producto o sistema, anali...

Análisis de fallas

El análisis de fallas (FA) es el proceso de recopilación y análisis de datos para determinar las causas de una falla y evitar su recurrencia. Es una disciplina ...

Cambios de voltaje inducidos por la luz

El cambio de voltaje inducido por la luz es una técnica de análisis de fallas de semiconductores que utiliza una fuente de láser o luz en longitudes de onda inf...

Parámetros de RAM

Los parámetros RAM identifican tres características fundamentales en el campo del mantenimiento de un sistema o aparato. RAM significa Confiabilidad, Disponibil...

Tiempo medio entre fallos

El tiempo medio entre fallas (a menudo abreviado como MTBF) es un parámetro de confiabilidad aplicable a dispositivos mecánicos, eléctricos y electrónicos y apl...

Ingeniería de confiabilidad

La ingeniería de confiabilidad es un campo de la ingeniería que se ocupa del estudio de la confiabilidad : la capacidad de un sistema o componente para realizar...

Censura (estadísticas)

En Estadística, Ingeniería, Economía e investigación médica, la censura ocurre cuando el valor de una medición u observación es solo parcialmente conocido. Por ...

Haz de iones enfocado

Focused Ion Beam (también conocido como FIB, del Inglés Focused Ion Beam) es una técnica utilizada particularmente en los campos de los semiconductores y las Ci...
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